ソフトウェア 名称 バージョン 分類 CNS1 精密化 SAINTデータ削減 SAINTデータスケーリング CNS位相決定
精密化 構造決定の手法 : 分子置換 / 解像度 : 1.95→14.91 Å / Rfactor Rfree error : 0.003 / Data cutoff high absF : 1449548.78 / Data cutoff low absF : 0 / Isotropic thermal model : RESTRAINED / 交差検証法 : THROUGHOUT / σ(F) : 0 / 立体化学のターゲット値 : Engh & HuberRfactor 反射数 %反射 Selection details Rfree 0.213 3997 10.2 % RANDOM Rwork 0.175 - - - obs 0.175 39375 86.1 % -
溶媒の処理 溶媒モデル : FLAT MODEL / Bsol : 46.5662 Å2 / ksol : 0.357302 e/Å3 原子変位パラメータ Biso mean : 22.6 Å2 Baniso -1 Baniso -2 Baniso -3 1- 2.86 Å2 4.62 Å2 0 Å2 2- - 2.86 Å2 0 Å2 3- - - -5.72 Å2
Refine analyze Free Obs Luzzati coordinate error 0.25 Å 0.2 Å Luzzati d res low - 5 Å Luzzati sigma a 0.25 Å 0.22 Å
精密化ステップ サイクル : LAST / 解像度 : 1.95→14.91 Åタンパク質 核酸 リガンド 溶媒 全体 原子数 3950 0 56 312 4318
拘束条件 大きな表を表示 (4 x 19) 大きな表を隠す Refine-ID タイプ Dev ideal Dev ideal target X-RAY DIFFRACTION c_bond_d0.005 X-RAY DIFFRACTION c_bond_d_naX-RAY DIFFRACTION c_bond_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.3 X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_naX-RAY DIFFRACTION c_angle_deg_protX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d22.5 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d0.8 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_naX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_d_protX-RAY DIFFRACTION c_mcbond_it1.27 1.5 X-RAY DIFFRACTION c_mcangle_it1.84 2 X-RAY DIFFRACTION c_scbond_it2.24 2 X-RAY DIFFRACTION c_scangle_it3.24 2.5
LS精密化 シェル 解像度 : 1.95→2.07 Å / Rfactor Rfree error : 0.012 / Total num. of bins used : 6 Rfactor 反射数 %反射 Rfree 0.286 602 10.8 % Rwork 0.263 4973 - obs - - 74.2 %
Xplor file Refine-ID Serial no Param file Topol file X-RAY DIFFRACTION 1 PROTEIN_REP.PARAMPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION 2 WATER_REP.PARAMWATER.TOPX-RAY DIFFRACTION 3 CARBOHYDRATE.PARAMCARBOHYDRATE.TOPX-RAY DIFFRACTION 4 ION.PARAMION.TOPX-RAY DIFFRACTION 5 CIS_PEPTIDE.PARAM
精密化 *PLUS
最低解像度 : 15 Å / Rfactor Rfree : 0.215 / Rfactor Rwork : 0.177 溶媒の処理 *PLUS
原子変位パラメータ *PLUS
拘束条件 *PLUS
Refine-ID タイプ Dev ideal X-RAY DIFFRACTION c_angle_deg1.26 X-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_dihedral_angle_deg22.5 X-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_dX-RAY DIFFRACTION c_improper_angle_deg0.8
LS精密化 シェル *PLUS
最低解像度 : 2.02 Å / Rfactor Rfree : 0.29 / Rfactor Rwork : 0.27 / Num. reflection Rwork : 3228