ソフトウェア | 名称 | バージョン | 分類 |
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MAR345 | | データ収集 | XDS | | データ削減 | SHARP | | 位相決定 | CNS | 0.4 | 精密化 | XDS | | データスケーリング |
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精密化 | 解像度: 1.8→20 Å / Rfactor Rfree error: 0.005 / Data cutoff high absF: 566597.63 / Data cutoff low absF: 0 / Isotropic thermal model: RESTRAINED / 交差検証法: THROUGHOUT / σ(F): 0 / σ(I): 0 / 立体化学のターゲット値: Engh & Huber
| Rfactor | 反射数 | %反射 | Selection details |
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Rfree | 0.257 | 2384 | 5 % | RANDOM |
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Rwork | 0.226 | - | - | - |
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all | 0.226 | 50456 | - | - |
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obs | 0.226 | 47550 | 94.1 % | - |
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溶媒の処理 | 溶媒モデル: FLAT MODEL / Bsol: 48.17 Å2 / ksol: 0.357 e/Å3 |
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原子変位パラメータ | Biso mean: 33 Å2
| Baniso -1 | Baniso -2 | Baniso -3 |
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1- | -5.22 Å2 | 0 Å2 | -6.62 Å2 |
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2- | - | 2.27 Å2 | 0 Å2 |
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3- | - | - | 2.95 Å2 |
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Refine analyze | | Free | Obs |
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Luzzati coordinate error | 0.27 Å | 0.23 Å |
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Luzzati d res low | - | 5 Å |
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Luzzati sigma a | 0.18 Å | 0.18 Å |
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精密化ステップ | サイクル: LAST / 解像度: 1.8→20 Å
| タンパク質 | 核酸 | リガンド | 溶媒 | 全体 |
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原子数 | 2999 | 0 | 6 | 357 | 3362 |
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拘束条件 | Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_bond_d0.005 | | X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d26.6 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d0.79 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it0.88 | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it1.56 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it1.28 | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it2.05 | 2.5 | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | 解像度: 1.8→1.91 Å / Rfactor Rfree error: 0.016 / Total num. of bins used: 6
| Rfactor | 反射数 | %反射 |
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Rfree | 0.284 | 333 | 4.7 % |
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Rwork | 0.265 | 6769 | - |
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obs | - | - | 85.1 % |
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Xplor file | Refine-ID | Serial no | Param file | Topol file |
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X-RAY DIFFRACTION | 1 | PROTEIN_REP.PAPROTEIN.TOPX-RAY DIFFRACTION | 2 | WATER.PARAM | X-RAY DIFFRACTION | 3 | GOL.PAR | | | | |
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ソフトウェア | *PLUS 名称: CNS / バージョン: 0.4 / 分類: refinement |
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精密化 | *PLUS σ(F): 0 / % reflection Rfree: 5 % |
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溶媒の処理 | *PLUS |
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原子変位パラメータ | *PLUS Biso mean: 33 Å2 |
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拘束条件 | *PLUS Refine-ID | タイプ | Dev ideal | Dev ideal target |
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X-RAY DIFFRACTION | c_angle_deg1.3 | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_dihedral_angle_deg26.6 | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_d | | X-RAY DIFFRACTION | c_improper_angle_deg0.79 | | X-RAY DIFFRACTION | c_mcbond_it | 1.5 | X-RAY DIFFRACTION | c_scbond_it | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_mcangle_it | 2 | X-RAY DIFFRACTION | c_scangle_it | 2.5 | | | | | | | | | |
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LS精密化 シェル | *PLUS Rfactor Rfree: 0.284 / % reflection Rfree: 4.7 % / Rfactor Rwork: 0.265 |
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