プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 0.9184 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 2.2→35 Å / Num. obs: 339176 / % possible obs: 99.6 % / Observed criterion σ(I): 2 / 冗長度: 13.6 % / Rmerge(I) obs: 0.05 / Net I/σ(I): 16
反射 シェル
解像度: 2.2→2.26 Å / 冗長度: 4.1 % / Rmerge(I) obs: 0.51 / Mean I/σ(I) obs: 2.7 / % possible all: 99.7
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
PHENIX
(PHENIX.REFINE: 1.7_650)
精密化
AutoSol
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単一同系置換・異常分散 開始モデル: NONE 解像度: 2.2→19.936 Å / SU ML: 0.29 / σ(F): 1.99 / 位相誤差: 27.76 / 立体化学のターゲット値: ML 詳細: RESIDUES FROM 3 TO 107 IN CHAIN WERE NOT MODELED BECAUSE OF NO OBSERVABLE ELECTRON DENSITY. RESIDUES CYS38 TO CYS44 IN CHAIN X WERE MODELED STEREOCHEMICALLY.
Rfactor
反射数
%反射
Rfree
0.258
4174
5 %
Rwork
0.22
-
-
obs
0.222
83461
99.8 %
溶媒の処理
減衰半径: 0.61 Å / VDWプローブ半径: 0.9 Å / 溶媒モデル: FLAT BULK SOLVENT MODEL / Bsol: 55.258 Å2 / ksol: 0.366 e/Å3