モノクロメーター: Osmic conforcal Max-Flux / プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 3.8→50 Å / Num. obs: 34283 / % possible obs: 82.5 % / 冗長度: 2.8 % / Biso Wilson estimate: 44.1 Å2 / Rmerge(I) obs: 0.145 / Net I/σ(I): 5.8
反射 シェル
解像度: 3.8→3.94 Å / 冗長度: 2.4 % / Rmerge(I) obs: 0.355 / Mean I/σ(I) obs: 1.8 / % possible all: 77.1
-
解析
ソフトウェア
名称
バージョン
分類
REFMAC
5.2.0005
精密化
HKL-2000
データ削減
SCALEPACK
データスケーリング
SOLVE
位相決定
精密化
構造決定の手法: 多重同系置換 / 解像度: 3.81→27.36 Å / Cor.coef. Fo:Fc: 0.923 / Cor.coef. Fo:Fc free: 0.883 / SU B: 39.751 / SU ML: 0.56 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R Free: 0.884 / 立体化学のターゲット値: MAXIMUM LIKELIHOOD / 詳細: HYDROGENS HAVE BEEN ADDED IN THE RIDING POSITIONS
Rfactor
反射数
%反射
Selection details
Rfree
0.22943
1718
5.1 %
RANDOM
Rwork
0.18464
-
-
-
obs
0.18694
32165
83.05 %
-
溶媒の処理
イオンプローブ半径: 0.8 Å / 減衰半径: 0.8 Å / VDWプローブ半径: 1.2 Å / 溶媒モデル: MASK