プロトコル: SINGLE WAVELENGTH / 単色(M)・ラウエ(L): M / 散乱光タイプ: x-ray
放射波長
波長: 1.5418 Å / 相対比: 1
反射
解像度: 1.46→25.25 Å / Num. obs: 54856 / % possible obs: 94.6 % / 冗長度: 4 % / Rmerge(I) obs: 0.064 / Net I/σ(I): 6.1
反射 シェル
解像度: 1.46→1.54 Å / 冗長度: 3 % / Rmerge(I) obs: 0.287 / Mean I/σ(I) obs: 2.4 / % possible all: 94.6
反射
*PLUS
最高解像度: 1.46 Å / 最低解像度: 25.24 Å / 冗長度: 4 % / Rmerge(I) obs: 0.064
反射 シェル
*PLUS
% possible obs: 94.6 % / 冗長度: 3 % / Rmerge(I) obs: 0.287 / Mean I/σ(I) obs: 2.4
-
解析
ソフトウェア
名称
分類
REFMAC
精密化
MOSFLM
データ削減
SCALA
データスケーリング
SHELX
位相決定
SHARP
位相決定
CCP4
位相決定
精密化
構造決定の手法: 単一同系置換・異常分散 / 解像度: 1.46→15 Å / SU B: 1.543 / SU ML: 0.058 / 交差検証法: THROUGHOUT / ESU R: 0.075 / ESU R Free: 0.072 詳細: REFINEMENT DETAILS CAN BE FOUND IN THE JRNL CITATION ABOVE.